國家材料分析檢測中心
劉工
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北京市
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樣品名稱:電鏡分析
檢測項目:SEM:二次電子像,背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ;EDS:點分析、線掃描、面分布;
認可資質(zhì):其它
檢測標準:GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法
服務(wù)地點:北京市
適用范圍:材料分析
標簽: 電鏡分析 SEM:二次電子像,背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ;EDS:點分析、線掃描、面分布; GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法
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