樣品名稱:電鏡分析
檢測項(xiàng)目:SEM:二次電子像,背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ;EDS:點(diǎn)分析、線掃描、面分布;
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法
服務(wù)地點(diǎn):北京市
適用范圍:材料分析
標(biāo)簽: 電鏡分析 SEM:二次電子像,背散射電子的高、低電壓高分辨成像 ;EDS:點(diǎn)分析、線掃描、面分布; GB/T25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法