樣品名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
檢測(cè)項(xiàng)目:跌落
認(rèn)可資質(zhì):CMA CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落;GB/T 2423.8-1995;環(huán)境試驗(yàn) 第2-31部分:試驗(yàn)-試驗(yàn)Ec: 粗暴裝卸沖擊,設(shè)備類樣品;IEC 60068-2-31:2008
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 跌落 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落;GB/T 2423.8-1995;環(huán)境試驗(yàn) 第2-31部分:試驗(yàn)-試驗(yàn)Ec: 粗暴裝卸沖擊,設(shè)備類樣品;IEC 60068-2-31:2008