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半導(dǎo)體集成電路中密封 粗檢漏檢測

  • 樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測項目:密封 粗檢漏

  • 認可資質(zhì):CNAS

  • 檢測標準:半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

  • 服務(wù)地點:全國

  • 適用范圍:電子電氣

  • 標簽: 半導(dǎo)體集成電路 密封 粗檢漏 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

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