樣品名稱:PCB&PCBA失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:掃描電子顯微技術(shù)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548 B-2005;方法5003微電路的失效分析程序
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: PCB&PCBA失效分析 掃描電子顯微技術(shù) 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548 B-2005;方法5003微電路的失效分析程序