樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:制樣鏡檢
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101、0102、0201~0203、0401、0601、0801、0802、1501、1503中2.6條,0103、0301、0603、1401、1502、1601中2.5條,01
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 制樣鏡檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101、0102、0201~0203、0401、0601、0801、0802、1501、1503中2.6條,0103、0301、0603、1401、1502、1601中2.5條,01