樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項(xiàng)目:內(nèi)部氣體成份分析
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目0501-2.4、0701-2.5、0702-2.6、0703-2.4、0901-2.6、0902-2.5、1002-2.6、1003-2.7、1101-2.6、1102-2.6、12
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 內(nèi)部氣體成份分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目0501-2.4、0701-2.5、0702-2.6、0703-2.4、0901-2.6、0902-2.5、1002-2.6、1003-2.7、1101-2.6、1102-2.6、12