樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測項(xiàng)目:引出端強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 MIL-STD-750-2B-2022 方法2036
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 引出端強(qiáng)度 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 MIL-STD-750-2B-2022 方法2036