樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(失效分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:內(nèi)部檢查和清洗
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548A-1996 方法5003 3.2.7
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路(失效分析) 內(nèi)部檢查和清洗 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548A-1996 方法5003 3.2.7