樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性)
檢測(cè)項(xiàng)目:穩(wěn)態(tài)壽命
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-750-1B:2022 方法1026.5、1027.3
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性) 穩(wěn)態(tài)壽命 半導(dǎo)體器件環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-750-1B:2022 方法1026.5、1027.3