樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性)
檢測(cè)項(xiàng)目:穩(wěn)態(tài)壽命
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電路環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-883-1:2019 方法1005.11
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性) 穩(wěn)態(tài)壽命 微電路環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-883-1:2019 方法1005.11