樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(機(jī)械性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:(電子元器件)恒定加速度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(機(jī)械性能) (電子元器件)恒定加速度 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1