樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(機(jī)械性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:掃頻振動(dòng)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電路機(jī)械試驗(yàn)方法 第2部分:方法2000~2999 MIL-STD-883-2:2019 方法2007.3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(機(jī)械性能) 掃頻振動(dòng) 微電路機(jī)械試驗(yàn)方法 第2部分:方法2000~2999 MIL-STD-883-2:2019 方法2007.3