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集成電路-MCU 芯片中靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測檢測

  • 樣品名稱:集成電路-MCU 芯片

  • 檢測項(xiàng)目:靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測

  • 認(rèn)可資質(zhì):其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn):T/CIE073-2026 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分: MCU 芯片

  • 服務(wù)地點(diǎn):全國

  • 適用范圍:電子電氣

  • 標(biāo)簽: 集成電路-MCU 芯片 靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測 T/CIE073-2026 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分: MCU 芯片

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