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集成電路-MCU 芯片中常溫讀寫＋保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測檢測

  • 樣品名稱：集成電路-MCU 芯片

  • 檢測項目：常溫讀寫＋保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：T/CIE073-2028 工業(yè)級高可靠集成電路評價 第 8 部分： MCU 芯片

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 集成電路-MCU 芯片 常溫讀寫＋保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測 T/CIE073-2028 工業(yè)級高可靠集成電路評價 第 8 部分： MCU 芯片

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