樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:球柵陣列(BGA)試驗(yàn)方法
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB7677-2012 球柵陣列(BGA)試驗(yàn)方法 6 可焊性
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 球柵陣列(BGA)試驗(yàn)方法 GJB7677-2012 球柵陣列(BGA)試驗(yàn)方法 6 可焊性