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樣品名稱：集成芯片

檢測(cè)項(xiàng)目：輻射抗擾度 - IC帶狀線法

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：集成電路電磁抗擾度 第8部分：輻射擾度測(cè)量- IC 帶狀線法 EN 62132-8:2012 全條款

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 集成芯片 輻射抗擾度 - IC帶狀線法 集成電路電磁抗擾度 第8部分：輻射擾度測(cè)量- IC 帶狀線法 EN 62132-8:2012 全條款