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樣品名稱:集成芯片
檢測項目:輻射抗擾度 - IC帶狀線法
認可資質:其它
檢測標準:集成電路電磁抗擾度 第8部分:輻射擾度測量- IC 帶狀線法 IEC 62132-8:2012 全條款
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 集成芯片 輻射抗擾度 - IC帶狀線法 集成電路電磁抗擾度 第8部分:輻射擾度測量- IC 帶狀線法 IEC 62132-8:2012 全條款
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