樣品名稱:集成電路-MCU 芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分: MCU 芯片 T/CIE 073—2020 5.9.4
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路-MCU 芯片 靜態(tài)高溫長時(shí)間保存下數(shù)據(jù)退化檢測(cè) 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 8 部分: MCU 芯片 T/CIE 073—2020 5.9.4