樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:輸入高電平電流IIH
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.9
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān) 輸入高電平電流IIH 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000 5.9