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半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中輸入低電平電流IIL檢測(cè)

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：輸入低電平電流IIL

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 /5.10

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 輸入低電平電流IIL 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 /5.10

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