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樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路

檢測(cè)項(xiàng)目：輸出低電平電流 IOL

認(rèn)可資質(zhì)：其它

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000 5.12

服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

適用范圍：電子電氣

標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 輸出低電平電流 IOL 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000 5.12