樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路CMOS電路
檢測項目:輸出高阻態(tài)時低電平電流 IOZL
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000 5.14
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 輸出高阻態(tài)時低電平電流 IOZL 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》 SJ/T 10741-2000 5.14