樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器
檢測項目:輸出高阻態(tài)時高電平電流 IOZH
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.4
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器 輸出高阻態(tài)時高電平電流 IOZH 《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.4