樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目:維持狀態(tài)時(shí) VDD 電源電流 IDDS
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.9
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 維持狀態(tài)時(shí) VDD 電源電流 IDDS 《半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理》 SJ/T 10739-1996 2.9