樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器
檢測項(xiàng)目:輸入低電平電流 IIL
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié) 2
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲器 輸入低電平電流 IIL 《半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路》 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié) 2