樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:QE-01 熱沖擊試驗(yàn)(TST)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 - 第 25 部分:溫度循環(huán) IEC 60749-25:2003
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 QE-01 熱沖擊試驗(yàn)(TST) 半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 - 第 25 部分:溫度循環(huán) IEC 60749-25:2003