國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:QL-03 高溫儲(chǔ)存(HTS)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 - 第 6 部分:高溫儲(chǔ)存 IEC 60749-6:2017
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 QL-03 高溫儲(chǔ)存(HTS) 半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 - 第 6 部分:高溫儲(chǔ)存 IEC 60749-6:2017