(off)的檢測(cè)報(bào)告,半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中截止態(tài)源極漏電流?IS(off)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中截止態(tài)源極漏電流?IS(off)的檢測(cè)價(jià)格,半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中截止態(tài)源極漏電流?IS(off)的檢測(cè)時(shí)間,半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中截止態(tài)源極漏電流?IS(off)的檢測(cè)方法,半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)中截止態(tài)源極漏電流?IS(off)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)" /> (off)檢測(cè)測(cè)試_嘉峪檢測(cè)網(wǎng)" />
樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:截止態(tài)源極漏電流?IS(off)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T 14028-2018 5.5
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 截止態(tài)源極漏電流?IS(off) 半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T 14028-2018 5.5