樣品名稱:半導(dǎo)體分立器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫操作試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電能表用元器件技術(shù)規(guī)范 第4部分:光電耦合器 Q/GDW 11179.4-2014 6.4.3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體分立器件 高溫操作試驗(yàn) 電能表用元器件技術(shù)規(guī)范 第4部分:光電耦合器 Q/GDW 11179.4-2014 6.4.3