樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:老煉試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電路測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883L-2019 方法1005.11, 1006, 1015.12
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 老煉試驗(yàn) 微電路測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-883L-2019 方法1005.11, 1006, 1015.12