樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(電壓型)運(yùn)算放大器
檢測(cè)項(xiàng)目:鍵合強(qiáng)度(破壞性鍵合拉力試驗(yàn))
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2011.2
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路(電壓型)運(yùn)算放大器 鍵合強(qiáng)度(破壞性鍵合拉力試驗(yàn)) 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2011.2