樣品名稱:硅片
檢測(cè)項(xiàng)目:鐵含量
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度的測(cè)試 表面光電壓法 YS/T 679-2018
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 硅片 鐵含量 非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度的測(cè)試 表面光電壓法 YS/T 679-2018