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元器件檢測(cè)

元器件檢測(cè)

一鍵咨詢

項(xiàng)目詳解

國檢中心元器件實(shí)驗(yàn)室具備電子元器件非破壞性物理分析、電性能測(cè)試、氣候環(huán)境試驗(yàn)、綜合環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)技術(shù)能力,包括各類測(cè)試、分析、試驗(yàn)儀器和設(shè)備50余套,可以滿足GJB548、GJB4027、GJB128、GJB360、GJB7243等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)各類元器件進(jìn)行元器件篩選、元器件鑒定、DPA、失效分析、電測(cè)試、老煉、環(huán)境與機(jī)械性能試驗(yàn)。

失效分析:

失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用,在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需引入失效分析工作。

中心元器件實(shí)驗(yàn)室具備通用非破壞性物理分析和破壞性物理分析相結(jié)合的檢測(cè)手段,能夠開展SEM、CT、C-SAMPIND、X射線檢查、密封性、制樣鏡檢、內(nèi)部目檢、元素分析等檢測(cè)項(xiàng)目,通過檢測(cè)手段可以找到失效原因,并分析失效機(jī)理。

常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目:

    開封

外部目檢

    制樣鏡檢

去鈍化層

    元素分析

電源模塊

    老化試驗(yàn)

電性能測(cè)試

    密封性檢查

X-射線檢查

    聲學(xué)掃描聲微鏡檢查

PIN顆粒碰撞噪聲檢測(cè)

    SEM掃描電子顯微鏡檢查


獨(dú)特能力—非破壞性物理分析:

在不破壞被檢樣品電氣性能和保持結(jié)構(gòu)完整的前提下對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)??蓹z測(cè)到樣品內(nèi)部夾雜物,內(nèi)部裂紋,分層缺陷,空洞空隙等缺陷,實(shí)現(xiàn)篩選有效性評(píng)估及電子元器件100%物理缺陷篩選。

具備以晶體晶振為代表的頻率器件全溫測(cè)試,及集成電路、分立器件靜態(tài)、動(dòng)態(tài)電參數(shù)、元件電參數(shù)測(cè)試能力;

具有元件、器件、組件的失效分析、DPAX射線檢測(cè)、掃描電鏡等分析技術(shù)能力;

具有各類元器件老練、壽命試驗(yàn)等電應(yīng)力試驗(yàn)綜合評(píng)價(jià)能力。

服務(wù)介紹

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