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元器件檢測

元器件檢測

一鍵咨詢

項目詳解

國檢中心元器件實驗室具備電子元器件非破壞性物理分析、電性能測試、氣候環(huán)境試驗、綜合環(huán)境應(yīng)力試驗技術(shù)能力,包括各類測試、分析、試驗儀器和設(shè)備50余套,可以滿足GJB548GJB4027、GJB128、GJB360GJB7243等標(biāo)準(zhǔn)對各類元器件進(jìn)行元器件篩選、元器件鑒定、DPA、失效分析、電測試、老煉、環(huán)境與機械性能試驗。

失效分析:

失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用,在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需引入失效分析工作。

中心元器件實驗室具備通用非破壞性物理分析和破壞性物理分析相結(jié)合的檢測手段,能夠開展SEMCT、C-SAM、PIND、X射線檢查、密封性、制樣鏡檢、內(nèi)部目檢、元素分析等檢測項目,通過檢測手段可以找到失效原因,并分析失效機理。

常規(guī)檢測項目:

    開封

外部目檢

    制樣鏡檢

去鈍化層

    元素分析

電源模塊

    老化試驗

電性能測試

    密封性檢查

X-射線檢查

    聲學(xué)掃描聲微鏡檢查

PIN顆粒碰撞噪聲檢測

    SEM掃描電子顯微鏡檢查


獨特能力—非破壞性物理分析:

在不破壞被檢樣品電氣性能和保持結(jié)構(gòu)完整的前提下對樣品進(jìn)行檢測??蓹z測到樣品內(nèi)部夾雜物,內(nèi)部裂紋,分層缺陷,空洞空隙等缺陷,實現(xiàn)篩選有效性評估及電子元器件100%物理缺陷篩選。

具備以晶體晶振為代表的頻率器件全溫測試,及集成電路、分立器件靜態(tài)、動態(tài)電參數(shù)、元件電參數(shù)測試能力;

具有元件、器件、組件的失效分析、DPA、X射線檢測、掃描電鏡等分析技術(shù)能力;

具有各類元器件老練、壽命試驗等電應(yīng)力試驗綜合評價能力。

服務(wù)介紹

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