樣品名稱:X 射線計算機體層攝影設(shè)備
檢測項目:Z向幾何效率
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-44部分:X射線計算機體層攝影設(shè)備的基本安全和基本性能專用要求 IEC 60601-2-44:2009+AMD1:2012+AMD2:2016 203.113
服務(wù)地點:上海市 嘉定區(qū)
適用范圍:醫(yī)療器械
標(biāo)簽: X 射線計算機體層攝影設(shè)備 Z向幾何效率 醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-44部分:X射線計算機體層攝影設(shè)備的基本安全和基本性能專用要求 IEC 60601-2-44:2009+AMD1:2012+AMD2:2016 203.113