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樣品名稱(chēng):光耦合器
檢測(cè)項(xiàng)目:漏極電流IDSon
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件測(cè)試方法 2.GB12565-1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >
標(biāo)簽: 漏極電流IDSon 光耦合器
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