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電子元器件中溫度沖擊檢測(cè)

  • 樣品名稱：電子元器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：溫度沖擊

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》 GB/T 2423.22-2012/

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >

  • 標(biāo)簽： 溫度沖擊 電子元器件

電子元器件中溫度沖擊更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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