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半導體集成電路 失效分析中掃描電子顯微鏡（SEM）檢查檢測

• 樣品名稱：半導體集成電路 失效分析

• 檢測項目：掃描電子顯微鏡（SEM）檢查

• 認可資質：CNAS CMA

• 檢測標準：1、GJB 3233-1998 半導體集成電路失效分析程序和方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序

• 所屬行業(yè)分類：

• 標簽： 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 半導體集成電路 失效分析