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半導體集成電路中密封檢測

  • 樣品名稱:半導體集成電路

  • 檢測項目:密封

  • 認可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測標準:半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路分規(guī)范 (不包括混合電路) GB/T12750-2006

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >

  • 標簽: 密封 半導體集成電路

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