樣品名稱(chēng):正電子發(fā)射斷層成像裝置數(shù)字化
檢測(cè)項(xiàng)目:二維幾何畸變
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):YY/T1840-20234.1.4 正電子發(fā)射斷層成像裝置數(shù)字化技術(shù)要求
服務(wù)地點(diǎn):北京市
適用范圍:醫(yī)療器械
標(biāo)簽: 正電子發(fā)射斷層成像裝置數(shù)字化 二維幾何畸變 YY/T1840-20234.1.4 正電子發(fā)射斷層成像裝置數(shù)字化技術(shù)要求