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微電子材料中硅外延層晶體完整性檢測

  • 樣品名稱：微電子材料

  • 檢測項(xiàng)目：硅外延層晶體完整性

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14142-2017 硅外延層晶體完整性檢查方法 腐蝕法

  • 服務(wù)地點(diǎn)：北京市

  • 適用范圍：材料分析

  • 標(biāo)簽： 微電子材料 硅外延層晶體完整性 GB/T14142-2017 硅外延層晶體完整性檢查方法 腐蝕法

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