樣品名稱:微電子材料
檢測(cè)項(xiàng)目:工業(yè)硅中雜質(zhì)元素含量
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T14849.4-2014 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第4部分:雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 電感耦合等離子體原子發(fā)生光譜法
服務(wù)地點(diǎn):北京市
適用范圍:材料分析
標(biāo)簽: 微電子材料 工業(yè)硅中雜質(zhì)元素含量 GB/T14849.4-2014 工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第4部分:雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 電感耦合等離子體原子發(fā)生光譜法