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半導體集成電路中最高和最低工作溫度下電特性檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路

  • 檢測項目：最高和最低工作溫度下電特性

  • 認可資質(zhì)：CNAS

  • 檢測標準：半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體集成電路 最高和最低工作溫度下電特性 半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006 idt IEC 60748-11:1990

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