樣品名稱:集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:混合電路試驗(yàn)方法
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分:各種試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱(高溫) SJ/Z 9001.3-1987
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路 混合電路試驗(yàn)方法 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分:各種試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱(高溫) SJ/Z 9001.3-1987