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劉工
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樣品名稱:集成電路
檢測項目:單片電路試驗方法
認可資質:CNAS
檢測標準:《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第9部分:標準耐久性》 IEC 60749-9:2002
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 集成電路 單片電路試驗方法 《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第9部分:標準耐久性》 IEC 60749-9:2002
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