樣品名稱:集成電路
檢測項(xiàng)目:單片電路試驗(yàn)方法
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第31部分:塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的)》 IEC 60749-31:2002
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路 單片電路試驗(yàn)方法 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第31部分:塑封器件的易燃性內(nèi)部引起的)》 IEC 60749-31:2002