樣品名稱:失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:開封
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005;微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法MIL-STD-883H-2010
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 失效分析 開封 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548 B-2005;微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法MIL-STD-883H-2010