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多層瓷介(獨石)電容器DPA分析中引出端強度檢測

  • 樣品名稱：多層瓷介(獨石)電容器DPA分析

  • 檢測項目：引出端強度

  • 認可資質(zhì)：CNAS

  • 檢測標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB 4027A-2006電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析MIL-STD-1580B:2003電子及電氣元件試驗方法GJB 360B-2009

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 多層瓷介(獨石)電容器DPA分析 引出端強度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB 4027A-2006電子、電磁和機電元器件破壞性物理分析MIL-STD-1580B:2003電子及電氣元件試驗方法GJB 360B-2009

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