樣品名稱:多層瓷介(獨(dú)石)電容器DPA分析
檢測(cè)項(xiàng)目:內(nèi)部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB 4027A-2006電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析MIL-STD-1580B:2003電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB 360B-2009
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 多層瓷介(獨(dú)石)電容器DPA分析 內(nèi)部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法GJB 4027A-2006電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析MIL-STD-1580B:2003電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB 360B-2009