樣品名稱:集成電路壽命評(píng)價(jià)試驗(yàn)
檢測(cè)項(xiàng)目:壽命/可靠性試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB 548 B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1016壽命/可靠性試驗(yàn)
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路壽命評(píng)價(jià)試驗(yàn) 壽命/可靠性試驗(yàn) GJB 548 B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序方法1016壽命/可靠性試驗(yàn)