樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:功能驗(yàn)證(三溫)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 表4 C組 C4
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路 功能驗(yàn)證(三溫) 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分:半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 表4 C組 C4